企业简介
公司是由中国航天科技集团公司所属企业及科研人员共同出资兴办的，以电子元器件测试、试验设备和其他专用智能化测试系统研制、开发、生产和销售为主的高新技术企业。公司成立于1993年1月，拥有电子元器件可靠性研究和自动控制、精密仪器设计等方面具有丰富经验
北京华峰测控技术有限公司的工商信息
- 110108004228473
- 91110108102002226D
- 开业
- 其他股份有限公司(非上市)
- 1993年02月01日
- 郑连营
- 4200.000000
- 1999年09月01日 至 永久
- 北京市工商行政管理局海淀分局
- 2017年12月11日
- 北京市海淀区蓝靛厂南路59号23号楼
- 电子产品、仪器仪表、机械自动控制设备的制造（限分支机构经营）；技术开发、技术服务；销售自行开发后的产品；技术进出口、货物进出口。（企业依法自主选择经营项目，开展经营活动；依法须经批准的项目，经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动；不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。）
北京华峰测控技术有限公司的商标信息
| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 12087683 |  |
ACCOTEST | 2013-01-23 | 测量装置；测量仪器；电测量仪器；精密测量仪器；成套电气校验装置；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件) | 查看详情 |
| 2 | 6556368 |  |
华峰测控 | 2008-02-19 | 电测量仪器；成套电气校验装置 | 查看详情 |
| 3 | 6583101 |  |
ACCOTEST | 2008-03-07 | 测量装置；测量仪器；电测量仪器；精密测量仪器；成套电气校验装置；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件) | 查看详情 |
| 4 | 16420904 |  |
SOFTVIEW | 2015-02-28 | 数量显示器；测量装置；观测仪器；计量仪表；波长计；半导体器件；半导体；集成电路；芯片（集成电路）；电子芯片 | 查看详情 |
| 5 | 6556369 |  |
ASTS | 2008-02-19 | 测量装置;测量仪器;电测量仪器;精密测量仪器;成套电气校验装置;电脑软件;计算机程序(可下载软件); | 查看详情 |
北京华峰测控技术有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN205910229U | 一种弹簧针组件 | 2017.01.25 | 本实用新型公开了一种弹簧针组件，涉及集成电路测试技术领域。弹簧针组件包括弹簧针、弹簧针套管和用于放置 |
| 2 | CN205880137U | 一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路 | 2017.01.11 | 本实用新型公开了一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路，包括测试电压源和电压源依次经第一可控开关、电感 |
| 3 | CN205880061U | 具有多量程的微电容参比测量电路 | 2017.01.11 | 本实用新型公开了具有多量程的微电容参比测量电路，包括被测电容电路以及多个参比电容测量电路。激励电压信 |
| 4 | CN303928109S | 分立器件综合测试头 | 2016.11.23 | 1．本外观设计产品的名称：分立器件综合测试头。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于一种半导体 |
| 5 | CN105974202A | 具有多量程的微电容参比测量电路及方法 | 2016.09.28 | 本发明公开了具有多量程的微电容参比测量电路及方法，包括被测电容电路以及多个参比电容测量电路。激励电压 |
| 6 | CN105974293A | 一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路及其测试方法 | 2016.09.28 | 本发明公开了一种消除场效应管雪崩测试电感误差电路及其测试方法，包括测试电压源和电压源依次经第一可控开 |
| 7 | CN205581847U | 一种可快速重新配置FPGA的电路 | 2016.09.14 | 本实用新型公开了一种可快速重新配置FPGA的电路，在所述FPGA电路中分别实现一个通信控制电路和一个 |
| 8 | CN205318272U | 一种精密电压基准的温度补偿电路 | 2016.06.15 | 本实用新型公开了一种精密电压基准的温度补偿电路，包括测温电路和电流放大电路，所述测温电路的输出端与所 |
| 9 | CN205264955U | 一种电源引出插座 | 2016.05.25 | 本实用新型公开了一种电源引出插座，是针对多电源的引出插座，包括由多层金属导电板和绝缘板相互叠加组成的 |
| 10 | CN205263265U | 一种电平驱动电路 | 2016.05.25 | 本实用新型一种电平驱动电路，包括一个驱动波形产生电路和波形输出电路，驱动波形产生电路产生的波形通过波 |
| 11 | CN105573798A | 一种可快速重新配置FPGA的方法及电路 | 2016.05.11 | 本发明公开了一种可快速重新配置FPGA的方法及电路，方法是：FPGA电路首先与一个主控服务器建立通信 |
| 12 | CN303561682S | 半导体自动测试设备机柜（STS 8200B) | 2016.01.20 | 1、本外观设计产品名称：半导体自动测试设备机柜（STS 8200B）；2、本外观设计产品的用途：本外 |
| 13 | CN204961506U | 一种定位销 | 2016.01.13 | 本实用新型公开了一种定位销，包括定位部分和固定部分，所述定位部分与所述固定部分相连接成为一体，所述固 |
| 14 | CN204964702U | 一种运算放大器检测补偿网络 | 2016.01.13 | 本实用新型公开了一种运算放大器检测补偿网络，包括通过插座接口连接的被测运算放大器和围绕被测运算放大器 |
| 15 | CN204964620U | 一种总谐波失真和信噪比参数的测试设备 | 2016.01.13 | 本实用新型实施例公开了一种总谐波失真和信噪比参数的测试设备。该设备包括：模拟信号输入接口、模拟信号调 |
| 16 | CN204903978U | 一种测试系统与分拣机间通讯信号自适应装置 | 2015.12.23 | 本实用新型公开了一种测试系统与分拣机间通讯信号自适应装置，包括半导体器件电性能测试系统和分拣机，所述 |
| 17 | CN105137327A | 一种运算放大器检测补偿网络及其检测方法 | 2015.12.09 | 本发明公开了一种运算放大器检测补偿网络及其检测方法，包括通过插座接口连接的被测运算放大器和围绕被测运 |
| 18 | CN105137331A | 一种集成电路测试系统数字通道信号对齐方法及装置 | 2015.12.09 | 本发明公开了一种集成电路测试系统数字通道信号对齐方法及装置，是通过一个弹簧针探板和时间偏差补偿器实现 |
| 19 | CN204789920U | 一种用于集成电路测试的FPGA配置系统 | 2015.11.18 | 本实用新型公开了一种用于集成电路测试的FPGA配置系统，系统包括通用控制模块、含有FPGA的通用测试 |
| 20 | CN303439661S | 电路板（半导体测试系统浮动高压源表HVI1K) | 2015.11.11 | 1、本外观设计产品名称：电路板（半导体测试系统浮动高压源表 HVI1K）；2、本外观设计产品的用途： |
| 21 | CN303439660S | 电路板（半导体测试系统八路浮动源表FOVI) | 2015.11.11 | 1、本外观设计产品名称：电路板（半导体测试系统八路浮动源表 FOVI）；2、本外观设计产品的用途：本 |
| 22 | CN303428884S | 电路板（半导体测试系统双路浮动大功率源表FPVI) | 2015.11.04 | 1、本外观设计产品名称：电路板（半导体测试系统双路浮动大功率源表 FPVI）；2、本外观设计产品的用 |
| 23 | CN303428885S | 电路板（半导体测试系统四路浮动高精度电压表QVM) | 2015.11.04 | 1、本外观设计产品名称：电路板（半导体测试系统四路浮动高精度电压表QVM）；2、本外观设计产品的用途 |
| 24 | CN104965168A | 一种用于集成电路测试的FPGA配置系统及方法 | 2015.10.07 | 本发明公开了一种用于集成电路测试的FPGA配置系统及方法，系统包括通用控制模块、含有FPGA的通用测 |
| 25 | CN204649917U | 一种MOSFET晶圆导通电阻的测量装置 | 2015.09.16 | 本实用新型公开了一种MOSFET晶圆导通电阻的测量装置，其中测量装置测量的多颗管芯包括至少一颗被测管 |
| 26 | CN204442308U | 一种无分挡切换环节可程控幅度的快速边沿脉冲发生电路 | 2015.07.01 | 本实用新型公开了一种无分挡切换环节可程控幅度的快速边沿脉冲发生电路，包括三极管脉冲驱动电路，所述三极 |
| 27 | CN104634466A | 半导体功率器件结温仿真电路 | 2015.05.20 | 本发明公开了一种半导体功率器件结温仿真电路，利用电学中RC积分电路充电公式与热学中的温升公式近似相同 |
| 28 | CN303113002S | 混合信号测试头 | 2015.02.25 | 1.产品的名称：混合信号测试头。2.产品的用途：本品是用于数字模拟混合的专用自动化测试头设备，其物理 |
| 29 | CN203800895U | 一种可程控失调电流参数的运算放大器 | 2014.08.27 | 本实用新型提供一种可程控失调电流参数的运算放大器，由核心运算放大器单元、失调电流分档单元、逻辑控制单 |
| 30 | CN203720693U | 一种可程控失调电压参数的运算放大器 | 2014.07.16 | 本实用新型提供一种可程控失调电压参数的运算放大器，由核心运算放大器单元、失调电压分挡单元、光隔离单元 |
| 31 | CN302880781S | 紧凑型中大功率分立器件测试系统(STS8203) | 2014.07.16 | 1.产品的名称：紧凑型中大功率分立器件测试系统(STS8203)。2.产品的用途：本品是用于半导体分 |
| 32 | CN302872435S | 通用台式测试盒 | 2014.07.09 | 1.产品的名称：通用台式测试盒。2.产品的用途：本品用于将各类测试系统的测试资源转接至办公桌面类的测 |
| 33 | CN202009368U | V/I源表用可编程脉冲发生器 | 2011.10.12 | 一种用于半导体器件专用自动化测试设备的V/I源表用可编程脉冲发生器，其功能和性能适合于半导体器件的电 |
| 34 | CN201887724U | V/I源表用功率放大器 | 2011.06.29 | 一种用于半导体器件专用测试设备中各种V/I源表的功率放大器，实现了宽电压、电流范围，宽频带，高压摆率 |
| 35 | CN301245125S | 自动测试设备机柜(STS 8200) | 2010.06.02 | 请求保护的外观设计包含有色彩。 |
| 36 | CN301232682S | 自动测试设备的模拟测试盒(STS 8200) | 2010.05.26 | 请求保护的外观设计包含有色彩。 |
| 37 | CN300887094D | PCB板组件(SM 8000) | 2009.02.25 | 1.请求保护的外观设计包括PCB板各组件的形状及所属元器件的布局。2.省略其它视图。 |
| 38 | CN300886665D | 自动测试设备机柜(STS 8000) | 2009.02.25 | 请求保护的外观设计包含色彩。 |
| 39 | CN201191313Y | 专用自动化测试设备的总线系统 | 2009.02.04 | 一种用于半导体器件专用自动化测试设备的总线系统，由相互独立的LVDS信号总线、插件箱数字总线、插件箱 |
| 40 | CN300873722D | PCB板(SM 8003 DVI) | 2009.01.14 | 1.请求保护的外观设计包括PCB板的形状及所属元器件的布局。2.省略其它视图。 |
| 41 | CN300873327D | 自动测试设备机柜(STS 8000L) | 2009.01.14 | 请求保护的外观设计包含有色彩。 |
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